本文標(biāo)題："表面粗糙度電鑄計(jì)量圖像顯微鏡-測(cè)量型儀器"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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表面表面粗糙度儀電鑄計(jì)量圖像顯微鏡-測(cè)量型儀器
整平性測(cè)定方法
前面敘述了整平性計(jì)算公式和使用該計(jì)算式所得結(jié)果的
意義，當(dāng)測(cè)定整平性時(shí)，鍍前缺陷的深度與角度以及鍍后的
鍍層厚度是重要的因子，其測(cè)定可使用斷面顯微照相法，電
鍍前后的表面粗糙度可用表面粗度計(jì)測(cè)量，或用干涉顯微鏡
測(cè)量，但不管是采用哪種方法，都必須有缺陷深度與角度一
定的基體。作者們發(fā)明了一種簡(jiǎn)便測(cè)定整平性的方法，即下
述的赫爾槽測(cè)定法，測(cè)定試片進(jìn)行噴砂處理，使其表面缺
陷的深度與角度保持一定，用表面粗度計(jì)測(cè)定電鍍前后表面
粗糙度。
一般來(lái)說(shuō)，鍍層的整平性是在基體缺陷角度小的條件下
進(jìn)行測(cè)量的，因面如上所迅在這種條件下測(cè)出的數(shù)據(jù)偏高。
但是在實(shí)際電鍍中，基體都是使用砂輪打磨的，砂粒越細(xì)，
其缺陷的角度越大，大體為150～170°，因此，在測(cè)定鍍層
整平性時(shí)，希望能使用砂輪打磨基體。然而用砂輪打磨赫爾
槽試片時(shí)，很難使整個(gè)表面粗糙度非常均勻。采用噴砂法就
能夠比較簡(jiǎn)單地制出表面粗糙度均勻的赫爾槽試片。
電析應(yīng)力的意義和解釋
采用上述方法測(cè)定的電析應(yīng)力究竟有何意義，代表鍍層
什么性質(zhì)，對(duì)鍍層有何影響等問(wèn)題，作者進(jìn)行了如下的探討，
關(guān)于電析應(yīng)力，作者進(jìn)行了許多研究，結(jié)果可概括如下：首
先從上述實(shí)驗(yàn)方法中就可以看出，應(yīng)力導(dǎo)致鍍件的變形，然
而，一般電鍍產(chǎn)品基體厚，可認(rèn)為是剛體，對(duì)于剛體來(lái)說(shuō)，
鍍層薄，所以除特殊產(chǎn)品外，鍍件一般不會(huì)因電析應(yīng)力而導(dǎo)
致變形。即便對(duì)塑料電鍍也是這樣。塑料件電鍍變形一般是
下述原因，即：塑料制品在掛具上處于“張力”狀態(tài)時(shí)，即
使在室溫下看不出變形，但處在高溫調(diào)整溶液及鍍液中時(shí)，
在這種狀態(tài)下電鍍，便會(huì)發(fā)生變形。
另一方面在電鑄時(shí)，電沉積物與基體結(jié)合不十分牢固，
所以其變形影響很大。如果在張應(yīng)力大的條件下進(jìn)行電鑄，
則不僅導(dǎo)致電鑄過(guò)程中電沉積物從鑄模上脫落，也無(wú)法得到
與鑄模同形的產(chǎn)品。另外，與此相反，在壓縮應(yīng)力大的條件
下電鑄時(shí)，由于電沉積物的收縮，又會(huì)造成脫模的困難，因
此，電鑄時(shí)必須嚴(yán)格控制電析應(yīng)力。
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