本文標(biāo)題："光學(xué)和電子顯微術(shù)以及如顯微硬度測(cè)試等技術(shù)"
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光學(xué)和電子顯微術(shù)以及如顯微硬度測(cè)試等技術(shù)
在20世紀(jì)下半葉，人們發(fā)明了數(shù)目眾多的各式各樣的先進(jìn)的光學(xué)顯
微術(shù)。其中包括相襯顯微術(shù)(在法國(guó)發(fā)明)和多束干涉顯微術(shù)(在英國(guó)發(fā)
明)，還有可以清楚地辨別出遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于一個(gè)光波長(zhǎng)深度差的方法；這些
技術(shù)在研究多型性方面尤為有用。就在前不久，一項(xiàng)本質(zhì)上極為新穎的
技術(shù)：共焦光學(xué)顯微術(shù)面世了。只要在某個(gè)時(shí)刻集中在一層并同時(shí)擋掉
那些不在聚焦位置的散射光，這項(xiàng)技術(shù)可以明確地分辨出樣品深度方向
連續(xù)多層特征，無論材料是透明還是不透明的。還有一些或用紫外線或
用紅外線的顯微鏡。前者提高了由于光波長(zhǎng)的衍射限制的分辨能力；后
者用于一些特定用途的研究，
適用于材料科學(xué)家的有關(guān)光學(xué)顯微方法的技術(shù)、儀器和理論知識(shí)和
Petzow已經(jīng)給出了很好的概括。最新出版的著作中，有一本概述了包括
全部金相技術(shù)、光學(xué)和電子顯微術(shù)以及如顯微硬度測(cè)試等技術(shù)的好書，
是Phillips寫的。
電子一光學(xué)儀器對(duì)材料科學(xué)領(lǐng)域的沖擊在近些年是如此巨大，以至
于光學(xué)顯微方法在很多年輕的科研工作者眼里已成了日漸衰微的老古董
，在先進(jìn)的研究工作中越來越少用到，這樣的后果是很不幸的，前面已
經(jīng)提到過，在檢測(cè)材料時(shí)應(yīng)當(dāng)在很寬范圍的放大倍數(shù)下進(jìn)行的這個(gè)有益
習(xí)慣卻越來越不被人們所遵循。
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