本文標(biāo)題："電子顯微鏡可以觀察微米下材料的表面形貌-金相顯微鏡常識(shí)"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2013-1-20 1:11:21
電材料之表面形貌及其 vertical PFM 的振幅及相位圖，可明顯看出晶界必定為鐵電區(qū)的邊界，
而單一晶粒可以擁有數(shù)個(gè)小的鐵電區(qū)，每個(gè)鐵電區(qū)的尺寸可以小至幾百奈米的尺寸。
PCT 表面形貌, (b) PCT 的 out-of-plane 鐵電區(qū)的 amplitude 及 phase 影像，掃瞄尺寸為 1微米見(jiàn)方。
接著采用膜厚 300nm 的 Bi0.9Pb0.1FeO3(BPFO)鐵電薄膜量測(cè) in-plane 的局部
壓電響應(yīng)曲線。在圖 4-3 中的紅色十字所標(biāo)的位置作定點(diǎn)的壓電響應(yīng)曲線量測(cè)，
為其 in-plane 壓電響應(yīng)曲線的(a)壓電響應(yīng)相位曲線圖及(b)壓電響應(yīng)振幅曲線圖及(c) 壓電響應(yīng)曲線圖。
可知此定點(diǎn)的極化反轉(zhuǎn)電壓為4.385V，而在此in-plane 壓電響
應(yīng)曲線中可明顯觀察到有電壓偏移的現(xiàn)象，此偏移的來(lái)源可能為表面感應(yīng)電荷的
貢獻(xiàn)，使施加電壓為4.385V時(shí)仍無(wú)法順利使極化反轉(zhuǎn)，造成電壓偏移。
后一篇文章：多晶試片的晶粒形狀-一般用于顯微觀察的金相顯微鏡 »
前一篇文章：« 簡(jiǎn)單介紹壓電力顯微鏡的原理，鐵材料的觀察
tags:金相分析,金相顯微鏡,上海精密儀器,
電子顯微鏡可以觀察微米下材料的表面形貌-金相顯微鏡常識(shí),金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁(yè)地址：/gxnews/481.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/