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本文標題:"顆粒粒度測定方法-電子顯微鏡法"

發布者:yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間:2013-1-24 22:54:44

 顆粒粒度測定方法-電子顯微鏡

 
顆粒粒度測定方法:常用的顆粒粒度測定如下:
 
方 法
適用粒度范圍(µm)
一 尺量
肉眼方便的粒度
二 篩分(Screening)
實驗篩:10,000~74(Subsieve Size 可測至 10µm)
工業篩:100,000~150
三 升流法(Elutriation)
40~5
四 顯微鏡(光學)法
50~0.25
五 沉降法(Sedimentation) 重力場中:40~1.0;離心場中:5~0.05
六 電子顯微鏡法
1~0.005
 

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